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产品信息
定制高温测试座；
同时支持9个XOR非接卡模块，支持-40C~150C高低温；
同时支持条带方式和模块方式；
应用于样品验证、可靠性测试、老化测试、量产测试等；
可与赤松城（北京）科技的QTG/FTG测试设备以及STG测试软件配合使用。
QTG20-CL是一款用于非接触式智能卡模块/条带的高低温寿命测试和早期失效率评估测试的硬件设备，与CSC STG1001智能卡测试平台配合使用，为非接触式智能卡提供了可靠性测试解决方案。